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北京精微高博科學技術有限公司，總部坐落在北京理工科技大廈，是北京中關村高科技園區的高科技企業，專業研究、生產氮吸附比表面儀及孔徑分布(孔隙率)分析儀。多年來，公司堅持自主研發和創新，取得了光輝的業績，被譽為中國氮吸附儀的開拓者。
2000年，新型動態直接對比法比表面儀研制成功，開啟了我國氮吸附儀的新起點；
2004年，動態BET比表面儀研制成功，實現了我國動態氮吸附儀的一次新飛躍；
2005年，動態常壓孔徑分析儀研制成功，是動態氮吸附儀在技術與應用上的重大突破；
2007年，靜態容量法比表面與孔徑分析儀研制成功，可代替進口，進入國際先進行列；
2008年，被選中為參加“國家比表面標準物質標定測試”的唯一國內生產廠家
公司技術力量雄厚，由國內知名科學家為學科帶頭人，由博士、碩士、高級工程師及各種配套專業人才組成技術團隊，在理論研究深度、自主研發能力、設計制造水平、解決實際問題能力等方面，在國內都是首屈一指的。多年來，JW品牌的產品已形成完整的系列，已被廣大客戶認可，國內客戶幾百家，包括知名高等院校、科研院所及廣大企業，并已出口到歐洲等多個國家，龐大的客戶群體是信譽與質量的最好見證。
公司堅持以創新求發展，視質量為生命，以客戶需求為導向，始終以“為顧客提供滿意產品和優質服務”為宗旨。目前公司已建立起完善的質量控制體系和售后服務體系。在不斷完善現有產品的同時，根據客戶需求反饋，積極研究開發新產品，同時為用戶提供性能測試整體解決方案，更好的為教學、科研及生產服務，確保精微高博的技術和產品始終處于行業領先地位。
JW系列氮吸附儀產品概覽
牌號 功能 方法
JW-RB BET比表面測定 靜態容量法，全自動
JW-BK BET比表面測定
孔徑分布測定 靜態容量法，全自動
JW-04 對比法比表面測定 動態法，全自動
JW-004 對比法比表面測定
BET比表面測定 動態法，半自動
JW-K 對比法比表面測定
BET比表面測定
孔徑分布測定 動態法，半自動
JW-004A 對比法比表面測定
BET比表面測定
孔徑分布測定 動態法，全自動
