產品介紹
鍍層膜厚儀是集貴金屬檢測技術和經驗與一身，以獨特的產品配置、功能齊全的測試軟件、簡宜的操作界面來能滿足貴金屬成分檢測的需要，人性化的設計，使測試工作更加輕松完成。測量貴金屬使用高效且高精度的半導體接收器，滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，儀器小巧,是一款桌面式的測量儀器,使儀器操作更人性化、更方便。鍍層膜厚儀具有打印柱狀圖，正態分布圖表，以及Cp和 Cpk指標的功能。自動的求平均功能降低了測量數據范圍內的表面粗糙度影響.探頭自動識別。應用程式特定的校準參數儲存在測量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進行測量。
鍍層膜厚儀只需短短數秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
FISCHER 鍍層膜厚儀測量技術領先同行15年，在同測量領域獨領風蚤，成為膜厚儀之王，精準的數據，高端先進的技術，嚴格的品質要求，可靠、可信、快速的服務，及一些專業意見與技術扶持，值得您的信賴。
期待您的來電，金霖電子 吳小姐 手機：13603036715 TEL：0755-29371651 FAX：29371653 公司網址：www.kinglinhk.com 地址：寶安中心區宏發中心大廈
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