基于虛擬儀器技術(shù)的手機(jī)翻蓋耐久性測(cè)試系統(tǒng)(New)
A Cell Phone Hinge Test System Based on Virtual Instrument Technology
徐達(dá) 周毅 上海聚星儀器有限公司 應(yīng)用領(lǐng)域:電信 挑戰(zhàn): 手機(jī)翻蓋耐久性測(cè)試即將待測(cè)翻蓋手機(jī)重復(fù)開合預(yù)設(shè)的次數(shù),然后觀察手機(jī)的各部分性能是否完好,這在翻蓋手機(jī)的生產(chǎn)過(guò)程中是相當(dāng)重要的一環(huán)。而采用National Instruments公司的虛擬儀器(LabVIEW)進(jìn)行開發(fā),使操作界面非常友好。 在測(cè)試過(guò)程中操作人員針對(duì)每批不同型號(hào)的手機(jī)在初次測(cè)試時(shí)可使用微調(diào)功能將各個(gè)參數(shù)調(diào)整至理想值,并且可將這些參數(shù)存成相應(yīng)的配置文件以備以后測(cè)試同樣型號(hào)手機(jī)時(shí)使用,這樣大大減少了每次測(cè)試時(shí)的重復(fù)操作,提高了系統(tǒng)的自動(dòng)化程度。 應(yīng)用方案: 采用NI Motion 控制模塊控制伺服電機(jī)進(jìn)行驅(qū)動(dòng) 該測(cè)試系統(tǒng)使用虛擬儀器使系統(tǒng)規(guī)模最小化,提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性且易于維護(hù)和擴(kuò)展,操作界面友好。 使用的產(chǎn)品: PXI-8186控制器、PXI-7344、UMI-7764、YASKAWA公司的SGDL-04AS伺服單元和SGML-04AF12伺服電機(jī)以及基于虛擬儀器的用戶界面 介紹: 本文介紹的基于虛擬儀器技術(shù)的手機(jī)翻蓋耐久性測(cè)試系統(tǒng)采用NI Motion 控制模塊控制伺服電機(jī)進(jìn)行驅(qū)動(dòng),運(yùn)行速度可達(dá)到原來(lái)的4倍多且同時(shí)可對(duì)4部手機(jī)進(jìn)行測(cè)試,而采用National Instruments公司的虛擬儀器(LabVIEW)進(jìn)行開發(fā),使操作界面非常友好。 在測(cè)試過(guò)程中操作人員針對(duì)每批不同型號(hào)的手機(jī)在初次測(cè)試時(shí)可使用微調(diào)功能將各個(gè)參數(shù)調(diào)整至理想值,并且可將這些參數(shù)存成相應(yīng)的配置文件以備以后測(cè)試同樣型號(hào)手機(jī)時(shí)使用,這樣大大減少了每次測(cè)試時(shí)的重復(fù)操作,提高了系統(tǒng)的自動(dòng)化程度。 注:所有文章下載后需用Adobe Acrobat Reader(5.0或更高版本)瀏覽 如果您需要印刷版的用戶解決方案論文集,請(qǐng)?jiān)诹粞圆旧系怯洠琋I會(huì)盡快郵寄給您。歡迎您隨時(shí)撥打免費(fèi)電話與我們聯(lián)絡(luò):(800)8203622 文章版權(quán)歸西部工控xbgk所有,未經(jīng)許可不得轉(zhuǎn)載。 你可能感興趣的文章 研討培訓(xùn)更多>技術(shù)視頻更多>熱門下載更多>
|