激光粒度儀分檔測試要點
激光粒度儀分檔測試要點
任中京
(濟南微納儀器有限公司250022)
任中京
(濟南微納儀器有限公司250022)
摘要:本文簡述了激光粒度儀分檔測試的原理與優點,介紹了檔位的選擇與超量程的判斷方法。
關鍵詞:激光粒度儀,匯聚光路,分檔,超量程,數據合并。
自從1994年微納公司的JL9200便攜式高分辨激光粒度儀采用匯聚光路分檔測試以來,很多儀器廠家都紛紛采用了這種先進的光路。
匯聚光傅立葉變換光路,有人稱作“反傅立葉變換光路”,本人認為稱作“反傅立葉變換光路”理論依據不足。本文一律稱作匯聚光路。如圖1。
匯聚光傅立葉變換光路,有人稱作“反傅立葉變換光路”,本人認為稱作“反傅立葉變換光路”理論依據不足。本文一律稱作匯聚光路。如圖1。

圖1
匯聚光路的的主要優點有 :
1. 樣品池后置,克服了鏡頭有效孔徑對散射光的限制。
2. 大大縮短了儀器光路的長度,減少了光學元件,提高儀器的可靠性。
3. 樣品池移動,可以改變傅立葉變換系統的焦距,從而改變測量范圍,不需更換透鏡,做到一機多用。
4. 利于散射光散射角度增大,大大提高儀器分辨率。
對于一種未知粒度范圍的樣品選擇哪一檔測試呢?通常的方法是:先用任一檔測試。如果測試結果超量程,則改用更合適的量程測試。
超量程的判斷依據是,任何顆粒群的粒度分布曲線的高度都應該是從0開始到0結束。在有限的測量范圍內,邊界顆粒的粒度分布如果大于0 ,則可認為該顆粒群超過測試范圍。
如果分布曲線在右側邊界大顆粒陡然下降,則說明此樣品還有大顆粒超過量程,(見圖2a)則應改變更大的檔量程重新再測。
如果測試結果中分布曲線在左方小顆粒邊界陡然下降,(見圖2b)則說明此樣品還有更小顆粒沒有測到。應改變更小一檔量程重新再測。
如果被測試的樣品很寬,試測時超上限,再測時超下限則可用微納公司提供的粒度分布合并程序,將兩次不同檔位的測試結果合并成為一個完整的粒度分布結果。(見圖2c)
超量程的判斷依據是,任何顆粒群的粒度分布曲線的高度都應該是從0開始到0結束。在有限的測量范圍內,邊界顆粒的粒度分布如果大于0 ,則可認為該顆粒群超過測試范圍。
如果分布曲線在右側邊界大顆粒陡然下降,則說明此樣品還有大顆粒超過量程,(見圖2a)則應改變更大的檔量程重新再測。
如果測試結果中分布曲線在左方小顆粒邊界陡然下降,(見圖2b)則說明此樣品還有更小顆粒沒有測到。應改變更小一檔量程重新再測。
如果被測試的樣品很寬,試測時超上限,再測時超下限則可用微納公司提供的粒度分布合并程序,將兩次不同檔位的測試結果合并成為一個完整的粒度分布結果。(見圖2c)

圖2
綜上所述,分檔測試是激光粒度儀技術進步的結果。馬爾文公司也已經開始采用分檔測試。如果能正確判斷超量程現象,并采取正確的量程,激光粒度儀定會給你帶來更多的方便。(2004-7-20)
>>>進入儀器商城查看本條信息的發布人
文章版權歸西部工控xbgk所有,未經許可不得轉載。
上一篇:安捷倫科技推出mid-bus探頭