北京時代---測厚儀說明書TT260
1 概述 1 1.1 測量原理 2
1.2 標準配置及可選件 2
1.2.1 標準配置 2
1.2.2 可選件 3
1.3 儀器各部分名稱 3
1.3.1 儀器各部分名稱 3
1.3.2 測頭各部分名稱 3
1.3.3 屏幕顯示 4
1.4 技術參數 4
1.4.1 測量范圍及測量誤差（見附錄1） 4
1.4.2 使用環境 4
1.4.3 電源 4
1.4.4 外型尺寸和重量 4
2 儀器的使用 5
2.1 基本測量步驟 5
2.2 各項功能及操作方法 6
2.2.1 測量方式（單次測量連續測量） 6
2.2.2 工作方式（直接方式成組方式） 6
2.2.3 統計計算 7
2.2.4 存貯 8
2.2.5 刪除 8
2.2.6 設置限界 9
2.2.7 打印 9
2.2.8 與PC機通訊 10
2.2.9 單位制式轉換（公制<=>英制） 10
2.2.10 操作一覽表 11
2.2.11 關于測量和誤差的說明 11
3 儀器的校準 12
3.1 校準標準片（包括箔和基體） 12
3.2 基體 12
3.3 校準方法 12
3.3.1 零點校準 13
3.3.2 二點校準 13
3.3.3 修改組FX中的校準值 15
3.4 基本校準的修正 15
4 影響測量精度的因素 16
4.1 影響因素相關表 16
4.2 影響因素的有關說明 16
4.3 使用儀器時應當遵守的規定 17
5 保養與維修 18
5.1 環境要求 18
5.2 電池充電 18
5.3 更換電池 18
5.4 更換打印紙 19
5.5 更換色帶 19
5.6 裝、卸打印頭 19
5.7 故障排除 20
6 用戶須知 21
7 附表 22
1 概述
本儀器是一種便攜式測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現場。通過使用不同的測頭，還可滿足多種測量的需要。本儀器能廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護專業必備的儀器。
本儀器符合以下標準：
GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流方法
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀
JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》
JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》
特點：
 采用了磁性和渦流兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度；
 可使用6種測頭(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、)（去掉N1、N10）；
 具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
 具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
 設有五個統計量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差（S．DEV）；
 可采用兩種方法對儀器進行校準，并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正；
 具有存貯功能：可存貯495個測量值；
 具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行新的測量；
 可設置限界：對限界外的測量值能自動報警；并可用直方圖對一批測量值進行分析；
 具有打印功能：可打印測量值、統計值、限界、直方圖；
 具有與PC機通訊的功能：可將測量值、統計值傳輸至PC機，以便對數據進行進一步處理；
 具有電源欠壓指示功能；
 操作過程有蜂鳴聲提示；
 具有錯誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進行錯誤提示；
 設有兩種關機方式：手動關機方式和自動關機方式；
1.1 測量原理
本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
a) 磁性法(F型測頭)
當測頭與覆蓋層接觸時，測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。
b) 渦流法(N型測頭)
利用高頻交變電流在線圈中產生一個電磁場，當測頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產
生電渦流，并對測頭中的線圈產生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚
度。
圖1-1 磁性法基本工作原理 圖1-2 渦流法基本工作原理
1.2 標準配置及可選
1.2.1 標準配置
表1-1 標準配置清單
名 稱 數 量
TT260主機 1臺
打印頭 1個
標準片 5片
基體 1塊
充電器 1個
產品包裝箱 1個
使用說明書 1本
1.2.2 可選件
表1-2 可選件清單
名 稱 數 量
其他用途的測頭
通訊電纜 1條
通訊軟件 1個
1.3 儀器各部分名稱
1.3.1 儀器各部分名稱
圖1-2儀器各部分名稱
1. TT260主機 2. 微型打印頭 3. 顯示屏 4. 鍵盤 5. 測頭插座 6. 充電插座
7. 通訊接口 8. 打印紙倉 9. 打印機開關 10. 電源開關 11. 測頭
1.3.2 測頭各部分名稱
圖1-3 測頭各部分名稱
1. 定位套 2. V型口 3. 加載套 4. 連線 5. 插頭 6. 鎖母
1.3.3 屏幕顯示
圖1-3a全屏幕液晶顯示 圖1-3b顯示功能分區示意圖
1. 低電壓指標 2.測頭類型指標 3.測量單位 4.工作方式指示 5. 打印指示
6. 設限界指示 7.通訊連接指示 8.統計量指示 9.數據區
1.4 技術參數
1.4.1 測量范圍及測量誤差（見附錄1）
1.4.2 使用環境
溫度：0~40℃
濕度：20%～90%RH
無強磁場環境
1.4.3 電源
½AA 鎳氫電池5×1.2V 600mAh
1.4.4 外型尺寸和重量
外型尺寸：270mm×86 mm×47 mm
重量：約530g
2 儀器的使用
使用本儀器前，請務必仔細閱讀第3章(校準)和第4章(影響測量精度的因素)
2.1 基本測量步驟
a) 準備好待測試件（參見第4章）；
b) 將測頭插頭插入主機的測頭插座中，旋緊鎖母；
c) 將測頭置于開放空間，按一下“ON/OFF”鍵，開機；
d) 檢查電池電壓；
說明1：當主機帶著打印機時，打印機上的開關應置于OFF處，再按“ON/OFF”鍵，開機；
說明2：無BATT 顯示，表示電池電壓正常；BATT出現，表示電池電壓已低落，應立即充電；開機時若電池電壓不足則顯示BATT約1秒鐘后自動關機。
說明3：長期不用時應將電源開關按出。使用時記住將電源開關按入后再按“ON/OFF”
鍵開機。
開機時正常情況下，開機后顯示上次關機前的測量值；如：
其中：“NON-FERROUS” ------ N型測頭
“FERROUS” ------ F型測
“D” ------ 直接方式
“數字” -------- 上次關機前的最后一次測量值。
e) 是否需要校準儀器，如果需要，選擇適當的校準方法進行（參見第4章）；
f) 測量
迅速將測頭與測試面垂直地接觸并輕壓測頭定位套，隨著一聲鳴響，屏幕顯示測量值，提起測頭可進行下次測量；
g) 關機
在無任何操作的情況下，大約2~3min后儀器自動關機。按一下“ON/OFF”鍵，立即關機。
說明: 1. 如果在測量中測頭放置不穩，顯示一個明顯的可疑值，按 CLEAR 鍵可刪除
該值；
2. 重復測量三次或更多次后，按 STATS 鍵，將依次顯示五個統計量，即：平均
值（MEAN）、標準偏差（S.DEV）、測量次數（NO.）、最大測量值（MAX）、最小測量值（MIN）。
2.2 各項功能及操作方法
2.2.1 測量方式（單次測量連續測量）
本小節詳細地介紹了本機的各種功能及其操作方法。
 單次測量──測頭每接觸被測件1次，隨著一聲鳴響，顯示一個測量結果；
 連續測量──不提起測頭動態測量，測量過程中不伴鳴響，屏幕閃顯測量結果；
 兩種方式的轉換方法是：開機狀態下，按住STATS鍵3秒后，屏顯“- - - -” 后再抬起按鍵，則已轉入新的測量方式。
2.2.2 工作方式（直接方式成組方式）
 直接（DIRECT）方式 ── 此方式用于隨意性測量，測量值暫存在內存單元（共有99個存貯單元），當存滿99個存貯單元時，新的測量值將替掉舊的測量值，也就是說總是最新的99個測量值參與統計計算。
 成組方式（APPL）── 此方式便于用戶分批記錄所測試的數據，一組最多存99個數值，總共五組，可存495個數值。每組當存滿99個數值時，屏幕將顯示“FFFF” ，此時，仍可進行測量，但是測量值只顯示不存儲，也不參與統計計算。需要時，可刪除該組數據，再進行新的測量 。
每組內設有一個校準值，即該組下各個數據都是基于這個校準值測得的。每組內可設限界，即可對該組中的測量結果進行超限標識和報警。成組方式下，每個測量值都自動進入統計程序參與統計計算。因為成組方式下，可以存貯幾套基于不同校準值的測量數據，因此該方式特別適合于現場測量。
注意：所有測量值都將自動輸入統計（程序不適用于F1/90℃和N1/90℃測頭）。
 兩種方式的轉換方法是：
a) 儀器開機后，自動進入直接工作方式，工作方式區顯示“D”。按“FILE”鍵，然后再按↑鍵，儀器進入成組方式，工作方式區顯示“APPL”；
b) 用↑、↓鍵可選擇組號；
說明：1. 前兩位數表示該組中所存測量值的個數，一組最多存99個數值，
2. 中間的“.” 表示該組中已有校準值；
3. FX表示組號，最多5組。
c) 在成組方式中，按“↓”鍵，出現“F0”時，即轉入直接方式。
2.2.3 統計計算
本儀器對測量值自動進行統計處理，它需要至少三個測量值來產生5個統計值：平均值（MEAN）、標準偏差（S.DEV）、測試次數（No.）、最大測試值（MAX）、最小測試值（MIN）。
a) 參加統計計算的測量值
⊙ 在直接方式下所有測量值（包括關機前的測量值）均參加統計計算。
注意：當存滿99個存貯單元時，新的測量值將替代舊的測量值。存貯區內保存最新的99個測量值。
⊙ 在成組方式下，參加統計計算的測量值僅限于本組內的數據。
注意：每組當存滿99個數值時，盡管測量能繼續，但不能修改統計值。需要時，可清除內存單元，再進行新的測量；
b) 顯示統計值
⊙ 在直接方式下，按“STATS”鍵，5個統計值將依次顯示。
⊙ 在成組方式下，選擇組號，按“STATS”鍵，該組下的5個統計值將依次顯示。
2.2.4 存貯
成組方式下測量值自動存入內存單元，一組最多存99個數值，總共五組，可存495個數值。
2.2.5 刪除
⊙ 刪除當前測量值
無論在直接方式或成組方式下，只要在測量值顯示狀態，按一下“CLEAR”鍵，隨著
一聲鳴響，當前測量值已被刪除。
⊙ 刪除直接方式下的所有測量值、統計值、兩點校準值
在直接方式測量值顯示狀態下，按二次 “CLEAR” 鍵，隨著一聲長鳴響，直接方式下的所有測量值、統計值、兩點校準值已被刪除。
⊙ 刪除某組中的所有測量值，統計值
選擇組號，按二次“CLEAR”鍵，隨著一聲長鳴響，屏顯“00.Fx”，該組下的所有測量值，統計值已被刪除。
⊙ 刪除某組中的限界
選擇組號，按“LIMITS”鍵，顯示限界值，再按“CLEAR”鍵，限界值消失。
⊙ 刪除某組中的校準值
當該組中的測量數據為空時，按“CLEAR”鍵，則“00.Fx”中的“.”消失，校準值已
被刪除。
2.2.6 設置限界
a) 按“LIMITS”鍵，顯示以前設置的下限，然后用↓、↑ 鍵設定新的下限值。
b) 再按“LIMITS”鍵，顯示以前設置的上限，然后通過↓、↑鍵設定新的上限值，
提示: 1. 限界僅在成組方式下有效；
2. 限界以外的測試結果由蜂鳴聲報警；
3. 限界以外的測試結果與其它測試結果一起被存貯并進行統計計算。
4. 上限與下限的接近程度是有限的。在上限值為200μm以上時，上、下限最小接近程度為上限的3%，在上限值為200μm以下時，上、下限最小接近程度為5μm。
2.2.7 打印
打印步驟：
a) 將打印頭插入主機；
b) 按 ON/OFF 鍵打開主機；
c) 將打印頭開關撥向“ON”；
d) 按“PRINT”鍵出現“PRINT”提示符；
e) 打印統計值 ——— 按“STATS”鍵，屏顯并打印統計值。每按一次打印一個統計值。
f) 單次打印 ———— 單次測量時測一個打一個。
g) 連續打印 ———— 在“F0”狀態下，再按“PRINT”鍵，則打印直接方式下的所
有測量值、統計值。在“Fx” （x為1R 5）狀態下，按“PRINT”鍵，則打印該組方式下的所有測量值、統計值、限界、直方圖。
h) 取消打印————按住“PRINT”鍵約3秒鐘，屏幕上“PRINT”提示符消失，即已退出打印狀態。
注意: 1.在設置限界之后才能打印出直方圖;
2.關打印頭開關可中斷打印;
3.走紙：按 FEED 鍵，打印頭走紙。
2.2.8 與PC機通訊
與PC機通訊之前，按圖2-2所示，用本儀器附帶的通訊電纜，將儀器與PC機的串行接口連接好，并在PC機上進入本儀器的專用操作軟件Data View。
圖2-2 連接PC機
說明1：本儀器與PC機通訊，需使用時代Data View專用操作軟件。操作方法請閱讀軟件使用說明書。
說明2：本儀器與PC機連通后，儀器屏幕上出現 提示符 。
2.2.9 單位制式轉換（公制<=>英制）
在儀器關閉狀態下，按住ZERO鍵再按ON鍵，直到一聲鳴響，即已轉入到新的制式。
2.2.10 操作一覽表
表3-1 操作一覽表
鍵 名 功 能 備 注
ZERO 零點校準 3.3.1
STATS 顯示或打印五個統計值
連續測量<=> 單次測量 2.2.1、2.2.3、2.2.7 e)
FILE 進入成組方式 2.2.2
LIMIT 設置限界 2.2.6
CLEAR 刪除測試值、統計值、限界、校準值 2.2.5
↑、↓ 數字調節 2.2.2、2.2.6、3.3.2.1、3.3.2.2
PRINT 打印 2.2.7
FEED 打印頭走紙鍵 2.2.7
ON/OFF 開、關機 2.1
ZERO+ON/OFF 公制<=>英制 2.2.9
↑+↓+ON/OFF 用于進入基本校準狀態 3.4
*備注欄內給出的標號為本使用說明書中講解本功能的章節。
2.2.11 關于測量和誤差的說明
⊙ 如果已經進行了適當的校準，所有的測量值將保持在一定的誤差范圍內(見附錄1)；
⊙ 根據統計學的觀點，一次讀數是不可靠的。因此任何由TT260顯示的測量值都是五次"看不見"的測量的平均值。這五次測量是在幾分之一秒的時間內由測頭和儀器完成的；
⊙ 為使測量更加精確，可利用統計程序在一個點多次測量，粗大誤差用CLEAR刪除，最后覆層的厚度為：
CH = M+S+δ
其中: CH：覆層厚度
M：多次測量的平均值
S：標準方差
δ：儀器允許誤差
3 儀器的校準
為使測量準確，應在測量場所對儀器進行校準。
3.1 校準標準片（包括箔和基體）
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準標準片。簡稱標準片。
a) 校準箔
對于磁性方法，“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對于渦流方法，通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校準，而且比用有覆蓋層的標準片更合適。
b) 有覆蓋層的標準片
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結合的覆蓋層作為標準片。對于磁性方法，
覆蓋層是非磁性的。對于渦流方法，覆蓋層是非導電的。
3.2 基體
a) 對于磁性方法，標準片基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與待測試件基體金屬的電性質相似。為了證實標準片的適用性，可用標準片的基體金屬與待測試件基體金屬上所測得的讀數進行比較。
b) 如果待測試件的金屬基體厚度沒有超過表一中所規定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進行校準：
1) 在與待測試件的金屬基體厚度相同的金屬標準片上校準；
2) 用一足夠厚度的，電學性質相似的金屬襯墊金屬標準片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。
c) 如果待測覆蓋層的曲率已達到不能在平面上校準，則有覆蓋層的標準片的曲率或置于校準箔下的基體金屬的曲率，應與試樣的曲率相同。
3.3 校準方法
本儀器有三種測量中使用校準方法: 零點校準、二點校準、在噴沙表面上校準。二點校準法又分一試片法和二試片法。還有一種針對測頭的基本校準。本儀器的校準方法是非常簡單的。
3.3.1 零點校準
適用于除CN02外的所有的測頭。
a) 在基體上進行一次測量，屏幕顯示＜×.×µm＞。
b) 按ZERO鍵，屏顯<0.0>。校準已完成，可以開始測量了。
c) 重復上述a、b步驟可獲得更為精確的零點，高測量精度。零點校準完成后就可進行測量了。
3.3.2 二點校準
3.3.2.1 一試片法
適用于除CN02外的所有測頭。這一校準法適用于高精度測量及小工件、淬火鋼、合金鋼。
a) 先校零點（如上述）。
b) 在厚度大致等于預計的待測覆蓋層厚度的標準片上進行一次測量，屏幕顯示＜×××µm＞。
c) 用↑、↓鍵修正讀數，使其達到標準值。校準已完成，可以開始測量了。
注意: 1. 即使顯示結果與標準片值相符，按↑、↓鍵也是必不可少的，例如按一次↑一次↓。這一點適用于所有校準方法。
2. 如欲較準確地進行二點校準，可重復b、c過程，以提高校準的精度，減少偶然誤差。
3. 用F5 和 F10 測頭，測量金屬鍍層時，應使用兩點校準法校準。
3.3.2.2 二試片法
適用于除CN02外的所有測頭。兩個標準片厚度至少相差三倍。待測覆蓋層厚度應該在兩個校準值之間。這種方法尤其適用于粗糙的噴沙表面和高精度測量。
a) 先校零值。
b) 在較薄的標準片上進行一次測量，用↑、↓鍵修正讀數，使其達到標準值。
c) 緊接著在厚的一個樣片上進行一次測量，用↑、↓鍵修正讀數，使其達到標準
值。校準已完成，可以開始測量了。
3.3.2.3 在噴沙表面上校準
噴沙表面的特性導致了測量值大大偏離真值，其覆蓋層厚度大致可用下面的方法確定。
方法一：
a) 儀器要用3.3.1或3.3.2.1的方法在曲率半徑和基材相同的平滑表面校準好。
b) 在未涂覆的經過同樣噴沙處理的表面測量10次左右，得到平均值Mo。
c) 然后，在已涂覆的表面上測量10次得到平均值Mm。
d) （Mm—Mo）±S即是覆蓋層厚度。
其中S（標準偏差）是SMm和SMo中較大的一個。
方法二：
a) 用直接方式下的單次測量法測量。
b) 先用兩試片法校準儀器。
c) 在試樣上測量5～10次。按STATS鍵，統計值中的平均值即是覆層厚度。
3.3.2.4 銅上鍍鉻層的校準方法
適用于N1測頭，并使用特殊的校準標準片。（去掉N400、N1/90°）
⊙必須使用一試片法。
⊙使用標有“銅上鍍鉻” (CHROME ON COPPER) 字樣的特殊標準片。
3.3.2.5 CN02測頭的校準方法
CN02是一種平展的測頭，僅適用于測量平滑表面的銅板或銅箔的厚度。
a) 開機后，將CN02測頭平穩地放在隨機配帶的5.0mm銅塊上，按ZERO鍵，屏幕顯示“OO”；
b) 在標準片上進行一次測量；
c) 用↑、↓鍵修正讀數，使其達到標準值。校準已完成，可以開始測量。
d) 測量雙面覆銅板需用雙面敷銅標準片校準。
說明：在溫度變化極大的情況下，如冬季或盛夏在室外操作時，應在與待測箔厚度接近的標準片上進行校準。校準時的環境溫度應與使用時的環境溫度一致。
注意: 1. 出現下列情況，必需重新校準。
____校準時，輸入了一個錯誤值
____操作錯誤
____更換了測頭
2. 在直接方式下，如果輸入了錯誤的校準值，應緊接著做一次測量，隨后再做一次校準，即可獲取新值消除錯誤值；
3. 每一組單元中，只能有一個校準值。
4. 零點校準和二點校準都可以重復多次，以獲得更為精確的校準值，提高測量精度但此過程中一旦有過一次測量，則校準過程便告結束。
3.3.3 修改組FX中的校準值
刪除組單元中的所有數據和校準值之后才能重新校準。否則將出現E20錯誤代碼和鳴響報警。更換測頭后，必須用此方法。
3.4 基本校準的修正
在下述情況下，改變基本校準是有必要的:
____測頭頂端被磨損。
____新換的測頭。
____特殊的用途。
在測量中，如果誤差明顯地超出給定范圍，則應對測頭的特性重新進行校準稱為基本校準。通過輸入 6個校準值(1個零和5個厚度值)，可重新校準測頭。
a) 在儀器關閉的狀態下按住↑和↓鍵再按ON鍵，直到一聲長鳴，即進入基本校準狀態；
b) 先校零值。可連續重復進行多次，以獲得一個多次校準的平均值，這樣做可以提高校準的準確性；
c) 使用標準片，按厚度增加的順序，一個厚度上可做多次。每個厚度應至少是上一個厚度的1.6 倍以上，理想的情況是2倍。例如: 50、100、200、400、800μm。最大值應該接近但低于測頭的最大測量范圍；
注意: 每個厚度應至少是上一個厚度的1.6 倍以上，否則視為基本校準失敗。
d) 在輸入 6個校準值以后，測量一下零點，儀器自動關閉，新的校準值已存入儀器。當再次開機時，儀器將按新的校準值工作。
4 影響測量精度的因素
4.1 影響因素相關表
表4-1 影響因素相關表
測量方法
影響因素 磁性方法 渦流方法
基體金屬磁性質 ▲
基體金屬電性質 ▲
基體金屬厚度 ▲ ▲
邊緣效應 ▲ ▲
曲率 ▲ ▲
試樣的變形 ▲ ▲
表面粗糙度 ▲ ▲
磁場 ▲
附著物質 ▲ ▲
測頭壓力 ▲ ▲
測頭取向 ▲ ▲
▲ ------ 表示有影響
4.2 影響因素的有關說明
a) 基體金屬磁性質
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。
b) 基體金屬電性質
基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。
c) 基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
d) 邊緣效應
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。
e) 曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
f) 試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。
g) 表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
g) 磁場
周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
h) 附著物質
本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感，因此，必須清除附著物質，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
i) 測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。
j) 測頭的取向
測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。
4.3 使用儀器時應當遵守的規定
a) 基體金屬特性
對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。
b) 基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3)中的某種方法進行校準。
c) 邊緣效應
不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
d) 曲率
不應在試件的彎曲表面上測量。
e) 讀數次數
通常由于儀器的每次讀數并不完全相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。
f) 表面清潔度
測量前，應清除表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質。
5 保養與維修
5.1 環境要求
嚴格避免碰撞、重塵、潮濕、強磁場、油污等。
5.2 電池充電
當電池電壓過低時，即屏幕上出現“BATT”提示標志時，應盡快給儀器充電。充電方法如下：
a. 關機；
b. 將電源適配器的充電插頭插入儀器充電插座中，然后將電源適配器接到220V/50Hz市電上，充電指示燈（綠）和快充指示燈（紅）均點亮；
c. 當快充指示燈（紅）熄滅時，表明電池已被充滿。正常情況大約充電2.5小時即可充滿。
d. 拔下充電插頭。
提示：1. 電源適配器的輸入電壓為220伏交流，輸出為12伏直流，最大充電流約300mA，最長充電時間約3小時。
2．本儀器使用了鎳氫蓄電池，因此，當出現“BATT”時,應及時充電，過放電對電池會有所損傷。
3．本儀器可以一邊充電一邊工作。
5.3 更換電池
本儀器使用的電池，一般工作壽命3年。電池失效后，用戶可自行更換，方法如下：
a) 將電源開關按出；
b) 旋下主機背后的四只螺釘，分開上、下蓋；
c) 拆下電池壓板，摘下電源插頭，取出失效電池；
d) 將新電池按原樣連線并裝上電源插頭（注意正、負極不要接反）；
e) 新電池就位，裝上電池壓板，將電源插頭插入電源插座，打開電源開關檢查儀器工作是否正常；
f) 合好上、下蓋后旋緊四只螺釘。
5.4 更換打印紙
更換打印紙時如圖5-1所示，在“手推處”向前下方推動打印紙倉蓋，取下倉蓋。裝
上打印紙卷后，將紙卷端部插入打印頭進紙口，按動FEED鍵，直至紙卷端部穿出打印頭并突出外殼，再裝上打印倉蓋。
手推處
圖5-1 更換打印紙 圖5-2 旋下螺釘
5.5 更換色帶
先拆下打印頭，旋下螺釘（見圖5-2），打開打印頭上蓋，更換色帶后，應按色帶上的箭頭指示方向旋動旋鈕拉緊色帶。
5.6 裝、卸打印頭
不用打印頭時，可按圖5-3所示方法將其卸下，注意用力要均勻，方向要正確，以免損壞殼體。為使用方便，卸下打印頭后，還可將支架插板和支架裝上。為保證打印頭連接插口工作可靠，卸下打印頭后，應裝上插口塞堵。
重新使用打印頭時，按相反順序操作。
向前推動
圖5-3 裝、卸下打印頭
5.7 故障排除
下面的錯誤信息表告訴您如何去識別和排除故障：
表5-1 錯誤信息表
錯誤代號 錯誤代號的含意 原因及解決辦法
E02 測頭或儀器損壞 修理測頭或儀器
E03 測頭或儀器損壞 修理測頭或儀器
E04 測量值發生大的波動(例如在軟覆蓋層上測量時)；磁場影響 在軟質覆蓋層上測量時，應采用輔助裝置進行測量；遠離強磁場環境
E05 開機時測頭離金屬基體太近 測頭遠離金屬基體
E08 測頭或儀器損壞 修理測頭或儀器
E11 測頭型號與本組原有數據對應的測頭型號不符 更換合適的測頭
另選一個未使用的組單元
刪除后重新校準
E15 零值偏差太大，不能校零 選擇合適的基體或修理儀器
E20 這個組單元中已有校準值 另選一個未使用的分組單元 或刪除后重新校準
如果未顯示錯誤代碼而工作不正常，例如：
a) 儀器不能自動關機；
b) 不能測量；
c) 鍵不工作；
d) 測量值反復無常。
出現這類故障時， 當用戶通過上述方法仍不能排除故障時，請用戶不要拆機自修。填妥保修卡后，請將儀器交我公司維修部門，執行保修條例。
如果能將出現錯誤的情況簡單描述一下，一同寄出，我們將會非常感謝您。
6 用戶須知
一、 用戶購買本公司產品后，請認真填寫《保修登記卡》并請加蓋用戶單位公章。請將（一）聯和購機發票復印件寄回本公司用戶服務部，也可購機時委托售機單位代寄。（二）聯寄（留）當地分公司維修站辦理登記手續。無維修站地區請用戶將（一）、（二）聯寄回本公司用戶服務部。手續不全時，只能維修不予保修。
二、本公司產品從用戶購置之日起，一年內出現質量故障（非保修件除外），請憑“保修卡”（用戶留存聯）或購機發票復印件與本公司各地的分公司維修站聯系，維修產品、更換或退貨。保修期內，不能出示保修卡或購機發票復印件，本公司按出廠日期計算保修期，期限為一年。
三、超過保修期的本公司產品出現故障，各地維修站負責售后服務、維修產品，按本公司規定核收維修費。
四、公司定型產品外的“特殊配置”（異型傳感器，專用軟件等），按有關標準收取費用。
五、凡因用戶自行拆裝本公司產品、因運輸、保管不當或未按“產品使用說明書”正確操作造成產品損壞，以及私自涂改保修卡，無購貨憑證，本公司均不能予以保修。
7 附表
附表1 技術參數表
測頭型號 F400 F1 F1/90 F5 F10
工作原理 磁 感 應
測量范圍(m) 0～400 0～1250 0～5000 0～10000
低限分辨力(m) 0.1 0.1 1 10
示值
誤差 一點校準(m) ±(3%H+1) ±(3%H+5) ±(3%H+10)
二點校準(m) ±((1～3)%H+0.7) ±((1～3)%H+1) ±((1～3)%H+5) ±((1～3)%H+10)
測
試
條
件 最小曲率半徑(mm) 凸 1 1.5 平直 5 10
最小面積的直徑(mm) 3 7 7 20 40
基體臨界厚度(mm) 0.2 0.5 0.5 1 2
測頭型號 N400 N1 N1/90° CN02 N10
工作原理
渦 流
測量范圍(m) 0～400
0～1250
10～200 0～10000
低限分辨力(m) 0.1 0.1 1 10
示
值
誤差 一點校準(m) ±(3%H+0.7) ±(3%H+1.5) ±(3%H+1) ±(3%H+25)
二點校準(m) ±[(1～3%H+0.7) ±[(1～3)%H+1.5] ___ ±((1～3)%H+25)
測
試
條
件 最小曲率半徑(mm) 凸 1.5 3 平直 僅為平直 25
最小面積的直徑(mm) 4 5 5 7 50
基體臨界厚度(mm) 0.3 0.3 0.3 無限制 50m鋁箔
注：H——標稱值
附表2 測頭選用參考表
覆蓋層
基體
有機材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、
塑料和陽極化處理等)
覆蓋層厚度不超過100m 覆蓋層厚度超過100m
如鐵、鋼等磁性金屬 被測面積的直徑
大于30mm F400型測頭 0～400m
F1型測頭 0～1250m F1型測頭 0～1250m
F5型測頭 0～5mm
F10型測頭 0～10mm
被測面積的直徑
小于30mm F400型測頭 0～400m F1型測頭 0～1250m
F400型測頭 0～400m
如銅 、鋁 、黃銅 、鋅 、 錫 等 有色金屬 被測面積的直徑
大于10mm N400型測頭 0～400m
N400型測頭 0～400m
N10型測頭 0～10mm
被測面積的直徑
小于10mm N400型測頭 0～400m N1型測頭 0～1250m
N400型測頭 0～400m
測頭選用參考表(續表)
覆蓋層
基體
非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)
覆蓋層厚度不超過100m 覆蓋層厚度超過100m
如 鐵、鋼等磁性金屬 被測面積的直徑
大于30mm F400型測頭 0～400m F400型測頭 0～400m
F1型測頭 0～1250m
F5型測頭 0～5mm
F10型測頭 0～10mmm
被測面積的直徑
小于30mm F400型測頭 0～400m
F1型測頭 0～1250m F400型測頭 0～400µm
F1型測頭 0～1250m
如銅 、鋁 、黃銅 、鋅 、 錫 等 有色金屬 被測面積的直徑
大于10mm 僅用于銅上鍍鉻
N400型測頭 0～40m --------
被測面積的直徑
小于10mm -------- --------
塑料、印刷線路非金屬基體 被測面積大 CN200型測頭10～200m CN200型測頭10～200m
如需電子稿資料或其它信息,請來電詢問或發郵件給我.
謝謝.
上海佑利測試設備有限公司
上海共和新路938號共和大廈1905室
TEL:021-36173317-20
FAX:021-56302360
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